Allalin平臺包括廣泛的分析SEM工具，如陰極發(fā)光(CL)，光致發(fā)光(PL)，時間分辨CL和PL，以及電子束感應電流(EBIC)分析。新推出的納米探測解決方案通過在低至幾納米的尺度上添加電氣表征、驅動和納米操作來擴展這些功能。
由于樣品和極片之間的間隙，以及集成在SEM柱中的獨特光學收集系統(tǒng)，Imina Technologies的miBots?緊湊而堅固，可以無縫集成到Allalin平臺中。因此，SEM和CL掃描的質量和速度與所有Allalin系統(tǒng)一樣高。
首個Allalin-miBots?平臺已成功安裝于香港大學崔教授實驗室。這種獨特的實現(xiàn)將使團隊能夠同時進行原位SEM，陰極發(fā)光和電氣器件表征，從而更深入地了解半導體材料的特性。
“我們非常自豪能夠提供這一獨一無二的解決方案，與Attolight合作是一次絕佳的體驗。Allalin集成了miBots，旨在為各種材料的基本特性提供更深入的見解，我相信它將有助于推動材料科學和半導體研究的發(fā)展。我期待著第一個結果，并部署更多這些先進的系統(tǒng)?！狪mina Technologies的聯(lián)合創(chuàng)始人紀堯姆·博奇(Guillaume Boetsch)說。
“Imina Solutions以其高質量的納米探測技術而聞名，我們很高興在Allalin平臺上引入這一新功能。研究人員將受益于為先進半導體和材料研究量身定制的獨特實現(xiàn)。我們已經(jīng)收到了這次整合的新訂單，并熱切期待第一批結果，”atolight AG分析銷售主管Nicolas Medard說。
在Allalin平臺上找到更多信息:https://attolight.com/allalin/
了解更多有關Imina Technologies解決方案的信息:https://imina.ch/en/products/nano-robotics-solutions-electron-microscopes
